KARAKTERIZACIJA MATERIJALA

Uvod
KRISTALI

POLIKRISTALI

MONOKRISTALI

Metalografija
Bavi se analizom strukture materijala. Analiziramo makrostrukturu (ono to je
vidljivo golim okom) i/ili mikrostrukturu materijala (vidljivo svjetlosnim ili elektronskim
mikroskopom). Takoer, to je i znanost o razvijanju strukturec (pripremi uzoraka).
Makrostruktura:
Makrostruktura predstavlja analizu gdje uzorak promatramo golim oko, a moemo
vidjeti razne greke, pukotine, povrinske greke kod zavara, morfologijom prijelomnih
povrina (npr. kod prijeloma uslijed umora materijala) i sl.
Mikrostruktura:
Mikrostruktura predstavlja analizu gdje uzorak promatramo svjetlosnim ili
elektronskim mikroskopom, odnosno elemente u strukturi nevidljive golim okom. Na taj
nain moemo vidjeti i analizirati kristalna zrna, precipitate u materijalu, pitting, porozitet,
intekristalnu koroziju i sl.

Priprema uzoraka
Priprema uzoraka sastoji se od vie koraka. Da bismo uzorak dobro pripremili za
analizu, moramo ga prvo izrezati od strojnog dijela koji analiziramo i to vrlo preciznim i
specijaliziranim alatima i napravama (dijamantne ploe) ili napraviti uzorak od materijala
istovjetnog kao i materijal dijela koji analiziramo. Sljedei korak u pripremi je ulijevanje
materijala u polimernu smjesu ija tvrdoa mora biti ista kao i tvrdoa uzorka (zbog
jednolike obrade). Nakon ulijevanja slijedi obrada uzorka bruenjem, runo (zastarjelo,
rijetko) ili na stroju (ee). Kad je uzorak izbruen kako treba, slijedi poliranje, kojim
dovodimo uzorak do zrcalnog sjaja. Nakon toga nagrizamo uzorak kako bismo vidjeli zrna i
granice zrna u uzorku. Vano je napomenuti da nakon bruenja, poliranja i nagrizanja svaki
put gledamo uzorak na mikroskopu kako bismo vidjeli ukljuke, greke, porozitet i druge
greke prije nego nagrizamo uzorak da nam ne bi promaklo neto vano.

Izrezivanje
Problemi kod izrezivanja :

Lom ploe
Rjeenje : smanjiti pritisak, smanjiti hlaenje, uvrstiti plou

Zaglaivanje ploe
Rjeenje : meka ploa, poveati pritisak, tvri abraziv

Ploa ne ree
Rjeenje : smanjiti koncentraciju i koliinu abraziva

Troenje ploe
Rjeenje : tvra ploa, smanjiti pritisak

Spaljivanje uzorka
Rjeenje : provjeriti i korigirati smjer hlaenja, meka ploa, smanjiti pritisak

Spaljivanje ploe
Rjeenje : smanjiti pritisak, brzinu uzorka, provjeriti hlaenje

Ulijevanje uzoraka
Uzorke ulijevamo u polimernu masu iz vie razloga. Jedan od njih je da zatiti uzorak
od vanjskih uzroka, drugi je taj da dobivamo uniformni oblik uzorka za automatsku
pripremu na strojevima za bruenje/poliranje i daljnu obradu i analizu. Ulivenim uzorkom se
takoer i lake rukuje (naroito ako je jako malih dimenzija). Takoer, na ulivenom uzorku
se mogu bolje analizirati rubovi na kojima bi nam inae razne greke mogle promaknuti.
Uzorke ulijevamo u polimernu masu koja moe biti duromerna ili plastomerna, i to na nain
da ih lijevamo na hladno ili na toplo, kao to i prikazuje sljedei dijagram.

ULIJEVANJE
UZORAKA

DUROMERI

TOPLO

PLASTOMERI

HLADNO

Zahtjevi za masu
Kad govorimo o zahtjevima, elimo da nam polimer u koji ulijevamo uzorak imamo
to manju kontrakciju, kako nam se uzorak ne bi odvojio od mase, jer bi nam to stvaralo
probleme kod analize uzorka. Poeljna je i to manja adhezija, kako se ne bi zalijepio
uzorak za kalup. Nuna je i ista otpornost na abraziju kao kod uzorka, kako nam se kod
bruenja ne bi dogodilo da imamo udubine ili izboine na uzorku ili na masi. Iz oitih
razloga, masa mora imati mogunost poliranja.

Bruenje
Bruenjem nastojimo skinuti sloj prljavtine, absorbiranih plinova, okida i platino
deformiranog sloja na uzorku, kako bi nam ostao materijal koji je referntan materijalu koji
ispitujemo.

s l o j p r l j a v sloj
t i n eprljavtine
s lo j a d s o r b ir a n ih p lin o v a
sloj absorbiranih plinova

s lo j o k s id a

sloj oksida

p la s ti n o d e f o r m ir a n i s lo j
plastino deformiran materijal

o s n o v n i m a te r ija l
osnovni materijal

Parametri za bruenje :

Podloga
Abraziv(materijal)
Veliina abraziva
Lubrikant
Sila
Vrijeme
Brzina okretanja
3

Poliranje
U poliranom stanju analiziramo porozitet, nemetalne ukljuke i pukotine.

Nagrizanje uzorka (jetkanje)

Nagrizanje uzorka je postupak selektivnog korodiranja povrine s namjernom da se
istakne mikrostruktura uzorka. Na ovaj nain moemo vidjeti kristalna zrna i ostale
karakteristike materijala nevidljive u nenagrienom stanju.
Parametri potrebni za nagrizanje su sredstvo za nagrizanje, vrijeme nagrizanja,
temperatura ili elektrina struja.
Postupci nagrizanja su kemijsko nagrizanje, elektroliko nagrizanje, obojeno ili
termiko nagrizanje.
Kemijsko nagrizanje se obavlja na elicima, lakim i obojenim metalima. elike
nagrizamo u 3%-tnom nitalu ( 3% HNO3 + alkohol).
Elektroliko nagrizanje je postupak kojim nagrizamo nehrajue elike.
Obojeno nagrizanje se ne koristi za analizu, jer znatno oteava analizu
mikrostrukture, poto obojeno nagrizanje oboji drugaije svako zrno koje je drugaije
orijentacije, pa stoga dolazi do tog da do iste kristale protumaimo kao drugaije.
Termikim nagrizanjem nagrizamo keramiku.
Vrste nagrizanja :
Mikronagrizanjem analiziramo mikrostrukturu uzorka.
Makronagrizanjem analiziramo makrostrukturu. Provodimo ga na nain da
nagrizamo u jaoj otopini i dulje vrijeme.

Replike
Replike uzoraka radimo kad radimo analizu mikrostrukture na terenu. To moemo
ibjei na nain da radimo vjernu reprodukciju dijela kojeg analiziramo te taj uzorak
analiziramo u laboratoriju.

Svjetlosna mikroskopija
Svjetlosne mikroskope dijelimo na mikroskop i stereomikroskop. Daljnja podjela
mikroskopa je na monekularne (jedan okular) ili binokularne (dva okulara).

Mikroskop se, kao to je vidljivo na slici, sastoji od dvije konvergentne lee, jedna u
okularu, druga u objektivu.
Karakteristike mikroskopa :
Mikroskope razlikujemo po 3 karakteristike :
1. Poveanje
2. Razluivost
3. Dubinska otrina
Poveanje definiramo kao odnos izmeu veliine slike i veliine realnog predmeta.
Poveanje od 1 x definiramo kao udaljenost od 250 mm (dogovoreno). Openito kad
govorimo o poveanju, njegovu veliinu definiramo na nain :
Poveanje = objektiv okular
gdje je poveanje na okularu najee 10x, a na objektivu 5x, 10x, 20x, 50x, 100x.
Razluivost (rezolucija) je definirana kao najmanja udaljenost izmeu 2 objekta,
ali da je i dalje vidljivo da su ta dva objekta odvojena. Poeljno je da je ta udaljenost to
manja, dokle god vidimo razmak izmeu dva objekta. Razluivost je razlog zato ne moemo
imati enormna poveanja na svjetlosnom mikroskopu, nego samo poveanja do 1000x.
Formula po kojoj raunamo razluivost mikroskopa glasi :

d=

0,61 0,61
=
n sin
NA

gdje je: d razluivost

n indeks loma svjetlosti
6

 polukut zraka svjetla s leom objektiva

valna duljina svjetlosti
NA = n sin numerika apertura koliina svjetla koja ulazi u objektiv
Dubinska otrina je sposobnost objektiva da tvori otru sliku uzorka s neravnom
povrinom. Drukije reeno, elimo da objekti koji su nam vie udaljeni, takorei iza
glavnog objekta koji promatramo budu otri kao i objekt koji se nalazi ispred, tj. onaj kojeg
specifino promatramo.

Slaba dubinska otrina

Bolja dubinska otrina

Podjela mikroskopa
Mikroskope dijelimo na one s prolaznim svjetlom, te na njima promatramo i
analiziramo polimere, minerale i kompozite. Kod ovakvih mikroskopa svjetlost mora proi
kroz uzorak, stoga nam je potreban jako tanak uzorak kod kojeg svjetlost moe proi.
Minerale, kompozite i polimere moemo obraditi na tanko da svjetlost prolazi kroz njih, to
je nemogue kod metala. Kod metala zato koristimo mikroskope s reflektirajuim svjetlom.
Svjetlosne mikroskope dijelimo na uspravne (kroz uzorak prolazi svjetlo) i invertne
(svjetlo ne prolazi kroz uzorak, ve se reflektira u objektiv).

Dijelovi mikroskopa
Svaki mikroskop sadri tijelo, stoli za uzorak, dijelove za fokusiranje slike, sustav za
iluminaciju (osvjetljenje) i optike komponente (objektiv i okular).
Sustav za iluminaciju :
Izvor svjetla : Volfram arna nit koja je dobra za analizu ali nedovoljna za
fotografiranje uzoraka ili volfram halogena arulja koja emitira dovoljno svjetla za
ffotografiranje. Rijee se koristi Xenon arulja koja je izuzetno jakog svjetla, primarno kod
DIC mikroskopa.
Sustavom za iluminaciju nastojimo korigirati svjetlo na nain da dobijemo dovoljno
jako svjetlo za analizu, bez refleksa, s optimalnom aperturom te to mogui manji snop
svjetlosti, ali moramo paziti na fokus da smprijeimo zagrijavanje uzorka.

Dijelovi sustava za iluminaciju su :

Izvor svjetla
Kondenzor lea fokusiranje svjetla
Dijafragma (blenda)
o Smanjuje bljesak i refleksiju
o Regulira aperturu odn. koliinu svjetla
Filteri
o Modificiraju svjetlo za lake promatranje

Okulari :
Okulari poveavaju primarnu sliku koju mikroskom stvara na 250 mm od oka.
Usklaeni su sa objektivima da dobijemoodreeno poveanje i sliku koju traimo. Gledanjem
slike kroz okular mjerimo odreene duljine na uzorku (granice zrna, precipitate...),
usporeivanje, lociranje faza itd. Udaljenost okulara od oka korisnika, da bismo dobili jasnu
sliku, je 10 mm ili manje i ne ovisi o dioptriji korisnika.
Objektivi :
Objektivi formiraju primarnu sliku, te su s tim svojstvom najvaniji dio svjetlosnog
mikroskopa. Njihov je zadatak sakupiti to je mogue vie svjetla s uzorka i kombinirajui to
svjetlo stvaraju sliku.
Numerika apertura objektiva (NA) je mjera za koliinu sakupljenog svjetla.

NA=n sin
n indeks loma svijetla (zrak 1, ulje 1,5)
polukut zraka svijetla s leom objektiva

Greke optikih komponenti

Greke optikih komponenti su posljedica fizikalnih zakona i loma svjetlosti i
nemogue ih je izbjei.
Kod svjetlosnih mikroskopa 3 su vrste greaka :
Sferna aberacija
Kromatska aberacija
Astigmatizam

Sferna aberacija

Sferna aberacija je pojava kad iroki snop zraka upada na leu, a rubne se zrake lome
jae od centralnih te padaju u razliiti fokus i time stvaraju sliku blie lei. Pojava se
izbjegava koritenjem dijafragmi koje ograniavaju upadni snop zraka na paraksijalne, a
moe se i ispraviti koritenjem + i lee kod kojih su aberacije u suprotnim smjerovima.
Kromatska aberacija

Kromatska aberacija je pojava koja nastaje kada polikromatska svjetlost (npr. bijela)
prolazi kroz leu, te se razliite valne duljine svih boja spektra lome pod razliitim kutem jer
indeks loma svjetlosti ovisi o valnoj duljini, te tako svaka valna duljina na istoj lei ima
razliiti fokus. Sistemom od konveksne lee napravljene od krunskog stakla priljubljene uz
divergentnu leu od flintstakla moe se sprijeiti kromatska aberacija.

Vrste osvjetljenja
1.
2.
3.
4.

Svjetlo polje
Tamno polje
Polarizirajua slika
Diferencijalni interferencijski kontrast (DIC)

Svijetlo i tamno polje

Glavni dijelovi mikroskopa kod svijetlog i tamnog polja su :
1.
2.
3.
4.
5.

Izvor svjetlosti
Polupropusno zrcalo
Objektiv
Uzorak
Okular

Razlika kod svijetlog i tamnog polja na mikroskopu je kod refleksije svjetlosti od

uzorka. Kod svijetlog polja sve zrake svjetlosti upadaju okomito na uzorak, te se reflektiraju
okomito nazad, a kod granica zrna ili greaka na uzorku se svjetlost ne odbija okomito u leu
ve se odbija izvan promatranog polja. Na taj naim ravne povrine na uzorku vidimo bijelo,
a udubine u uzorku vidimo crno. Kod tamnog polja je princip gotovo isti, samo to zrake
upadaju pod kutem, te se odbijaju izvan polja, a na mjestima udubina se odbijaju okomito u
leu. Na taj nain povrinu vidimo crno, a udubine vidimo bijelo.

SVIJETLO POLJE

TAMNO POLJE

Polarizirajua slika
Kod polarizirajue slike imamo iste komponente kao i kod svjetlog i tamnog polja uz
dodatak polarizatora i analizatora.
Glavni dijelovi mikroskopa kod polarizirajue slike su :
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.

Izvor svjetlosti
Polarizator
Polupropusno zrcalo
Objektiv
Uzorak
Analizator
Okular

Polarizirajuu sliku na mikroskopu koristimo kada elimo ispitati je li promatrani

materijal izotropan (ista svojstva u svim smjerovima) ili anizotropan (istaknuta svojstva u
jednom smjeru. To provodimo na nain da polariziramo svjetlost koja se reflektira od uzorka
i zakreemo uzorak za 360. Ukoliko nema promjene slike (ne pocrni) materijal je izotropan,
u suprotnom, ako slika varira izmeu crne i bijele, materijal je anizotropan.

10

Diferencijani interferencijski kontrast (DIC, Nomarsky)

Uz pomo DIC-a nastojimo dobiti topografske slike uzorka bez gubitka rezolucije.
DIC mikroskop uz ostale elemente ima i Nomarsky prizmu koja lomi svjetlost pod razliitim
kutevima, te ona upada i odbija se od uzorka pod razliitim kutevima. Zbog toga imamo
dojam da gledamo trodimenzionalnu sliku, tj. vidimo topografiju i hrapavost povrine.
Glavni dijelovi DIC mikroskopa su :
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.

Izvor svjetla
Polupropusno zrcalo
Polarizator
DIC prizma
Analizator
Uzorak
Objektiv
Okular

Stereo mikroskop

Stereo mikroskop posjeduje dva okulara i dva objektiva. Na taj

nain nastaju dvije slike istog podruja pod razliitim kutevima, pa
dobivamotrodimenzionalni izgled povrine.
Poveanja kod stereo mikroskopa variraju od 2x 540x

11

Elektronska mikroskopija
Osnove elektronske mikroskopije
Elektronski mikroskop radi naprincipu slinom kao i svjetlosni, samo to su medij
kod elektronskog mikroskopa elektroni, a ne svjetlost, pa stoga moemo promatrati uzorke
znatno veim poveanjem.
Valna duljina elektronskog mikroskopa je definirana izrazom :

=0,1

150
V

V napon

Filament (20-100 KV)

Bias (Wehnelt)
Cylinder
Anode

Skica rada elektronskog

mikroskopa.

stream of electrons originating

from outer shell of filament atoms

Vakuum u mikroskopu mora biti minimalno 10-5 mbar.

Elektronski mikroskop
Znanstveno istraivaki instrument koji koristi zrake elektrona za istraivanje
uzoraka i mikrometarskom i nanometarskom podruju.
Vrste :

TEM transmisijki elektronski mikroskop

o STEM skenirajui transmisijski elektronski mikroskop

SEM skenirajui elektronski mikroskop

o FESEM field emission SEM

SPM scanning probe microscopy skenirajua mikroskopija s ticalom

o AFM atomic force microscope
o STM skenirajui tunelski mikroskop

Kod elektornskog mikroskopa, uzorak mora biti elektriki vodljiv.

12

TEM transmisijski elektronski mikroskop

Tehnika gdje snop prolazi kroz vrlo tanki uzorak. Dolazi do interakcije elektrona s
atomima uzorka, modificirani snop elektrona kreira sliku (ekran, foto papir, CCD kamera).
Karakteristike :
Napon : 60 300 kV (200 keV 1 MeV)
Rezolucija : do 0,14 nm
Poveanje : do 1 500 000 : 1
Uzorci moraju biti tanji od 500 nm, stoga je jako vana priprema uzoraka.
Princip rada analogan je svjetlosnom mikroskopu
Glavni dijelovi su :
1.
2.
3.
4.
5.

Kolona (izvor elektrona)

Sustav za vakuum (pumpa, ventili, cijevi)
Komora s nosaem uzorka i detektorima
Stoli sa sustavom za upravljanje i prikazom slike
Dodatna oprema (detektori)

Vrste slika :

Svijetlo polje (Bright field)

Tamno polje (Dark field)
Fazni kontrast
HREM (High resolution electron microscopy)

STEM skenirajui transmisijski elektronski mikroskop

TEM gdje elektroni prolaze kroz uzorak, ali su fokusirani u jednoj toki koja se
pomie i skenira uzorak po cijeloj povrini. Taj nain nam daje bolja poveanja i bolju
rezoluciju.
SEM skenirajui elektronski mikroskop,
FESEM field emission scanning electron microscopy
Tehnika gdje snop elektrona skenira po uzorku i izaziva niz reakcija s atomima na
povrini koju skenira. Detektori postavljeni u komori mikroskopa hvataju te elektrone i
formiraju sliku na ekranu.
Karakteristike :
Napon : 1-30 kV
Rezolucija : SEM do 3,0 nm
FESEM do 0,6 nm
Poveanja : SEM 5 : 1 500 000 : 1
FESEM 25 : 1 1 000 000 : 1
Informacije koje dobivamo na SEM-u su topografija (3D prikaz povrine),
morfologija (oblik, dimenzije i raspored estica i kristala), moemo dobiti mikroanalizu
kemijskog sastava i kristalografske informacije kao to je orijentacija atoma u kristalima.
13

Dijelovi SEM-a su isti kao i kod TEM-a :

1.
2.
3.
4.
5.

Kolona (izvor elektrona)

Sustav za vakuum (pumpa, ventili, cijevi)
Komora s nosaem uzorka i detektorima
Stoli sa sustavom za upravljanje i prikazom slike
Dodatna oprema (detektori)

Izvor elektrona (katoda, filament) na SEM-u je termalni; Wolfram zavojnica ili LaB 6
zavojnica. Kod FESEM-a je izvor elektrona hladni FE izvor ili Shottky FE.
Dogaaji na povrini uzorka

Dubina prodiranja elektrona ovisi o naponu i

atomskom broju elementa koji analiziramo (teini
elementa).

Sekundarni elektroni topografija

Kad uzorak napucamo elektronima, na mjestima

gdje imamo udubine neki elektroni uspiju pobjei iz
udubine, no mnogi ostanu zarobljeni ispod povrine,
te ih detektor ne oita. Na taj nain dobivamo sliku
koja pokazuje elementne kontraste.

EBSD detektor
Slui za ispitivanje kristalografske orijentacije materijala. Uzorak je nagnut za 70 te
se promjena u orijentaciji manifestira tzv. Kikuchi linijama
Mikroanaliza kemijskog sastava
EDS (energy dispersive x-ray spectroscopy)
- mjerenje energije rendgenskih zraka
WDS ( wavelength dispersive x-ray spectroscopy)
-mjerenje valne duljine rendgenskih zraka

14

Kvantitativna mikroanaliza kemijskog sastava (SEM EDS)

Priprema uzoraka za SEM
Da bismo pripremili uzorak za kvantitativnu analizu na SEM-u, imamo niz uvjeta :
1. Dimenzije uzorak mora biti mali, ovisi o veliini komore kojom raspolae SEM.
2. Uzorci moraju biti elektiki vodljivi za nevodljive uzorke radimo naparivanje
koje ostvaruje kontakt vodiima.
Charging pojava pranjenja uzorka zbog zasienosti elektrona
3. Uzorci moraju biti suhi kad uzorci nebi bili suhi, zbog vakuuma bi se dogodilo
naglo isparavanje, te bi se uzorak unitio.
SPM scanning probe microscopy
SPM : AFM atomic force microscopy
STM skenirajui tunelski mikroskop
SPM je vrsta mikroskopske tehnike gdje se slika povrine stvara kao rezultat
skeniranja povrine pomou ticala (sonde). Slika povrine nastaje uslijed mehanikog
pomicanja ticala po povrini uzorka, crta po crta, biljeei reakciju ticala kao funkciju
pozicije ticala (sonde).
AFM atomic force microscopy
Atomi formiraju otar vrh ticala koji se nalazi na fleksibilnoj konzoli i pomie se po
povrini uzorka. AFM metoda nije ovisna o valnoj duljini svjetlosti poto svjetlo nije medij u
ovom sluaju, ve mehaniki pomak. Rezolucija na AFM je nekoliko pm, to je atomska
rezolucija, a moemo ga koristiti i za manipulaciju atomima. Takoer na AFM nije potreban
vakuum. Nedostaci AFM su relativno spora analiza, najvea slika koju moemo dobiti
obuhvaa vrlo malo podruje, a sama slika ovisi o stanju vrha ticala, koje je izrazito teko
izraditi.

STM skenirajui tunelski mikroskop

STM je metoda koja radi na pricipu tunelskih struja

izmeu ticala i uzorka. Zbog vrlo male udaljenosti atoma na
vrhu ticala i atoma na povrini uzorka, njihove elektronske
orbitale se preklapaju i pojavljuje se tunelska struja. Na STM
moemo analizirati samo vodljive materijale.

15

Mikrotvrdoa
Vickers
Ispitivanje tvrdoe vee od 450 HBS (~48 HRC)
Indentor etverostrana dijamantna piramida, vrni kut 136
Karakteristike :
Polagano kontinuirano optereenje, bez udaraca, u trajanu 10 15 sec.
Nakon utiskivanja i mjerenja otiska na uzorku, tvrodou raunamo po izrazu :

HV =0,189

F
d2

F sila utiskivanja [N]

d dijagonale na otisku [mm]

Npr. 375HV10
375 iznos tvrdoe po Vickersu
10 optereenje od 10 kg
Kod Vickers metode optereenje utjee na vrijednost mjerenja. Dodue to je
primjetno samo kod manjih optereenja i homogenih materijala, kod veih optereenja ne
dolazi do promjene rezultata mjerenja zbog optereenja.
Za vrlo tanke slojeve koristimo tzv. Knoop metodu mjerenja.

Kvantitativna analiza
Elementi strukture :

Trodimenzijska tijela
Dvodimenzijski objekti
Jednodimenzijski objekti
Nuldimenzijski objekti

Direktna mjerenja
Udio faza :

Tokama
Crtama
Povrinama

16

Veliina zrna :
Metoda krugom :
Preko slike uzorka stavimo foliju na kojoj je otisnut krug promjera 50mm te
izbrojimo sva zrna unutar kruga i ona koja krug presijeca.
Potom dobivene vrijednosti uvrstimo u izraz :

M 2 (n u+ 0,5 nk )
N=
A
M poveanje
nu broj zrna unutar kruga
nk broj zrna na krugu
Tada dobivenu vrijednost za N uvrtavamo u izraz gdje je G broj zrna :

G=3,332 logN 2,954

Metoda crtama :
Brojimo samo broj zrna koje presijeca krug nk. Potom raunamo vrijednost l na
nain:

l=

Os
nk

gdje je Os opseg kruga podijeljen s poveanjem mikroskopa tj.

O s=

O
M

potom dobiveni l uvrtavamo u izraz za veliinu zrna:

G=6,644 log3,288

17